Andor 高分辨率光谱仪
Andor高分辨率,研究级光谱仪系列
更长焦距的Shamrock系列是为弱光应用需求设计的,但同样适合常规测量。具有多个输入/输出、丰富的可替换部件以及一键控制电动附件等特点,是一个高度通用的平台。
性能特点:
预校准通用光谱仪系列;
RF超环面光路设计校正像散(303i和500i);
一体化互动和专用Solis软件;
USB2.0接口;
扫描应用中的单点探测器探测上限至15μm(Shamrock 500i& 750);
三光栅塔台设计;
双出口设计;
丰富的配件:快门,滤光片轮,光纤附件以及显微镜耦合接口;
对近红外波段有镀金和镀银可供选择;
应用领域:
等离子体研究、时间分辨荧光、PLIF成像、流体分析、高光谱成像
参考参数:
